TIMS、MC-ICP-MS与LA-MC-ICP-MS、SIMS技术对比概览

在地质样品分析中，高精度同位素比值测定和微区元素分析是理解地球物质循环、地质事件时代学和地壳演化过程的关键技术手段。以下是TIMS、MC-ICP-MS、LA-MC-ICP-MS以及SIMS这四种技术的综合对比小结： TIMS（热电离质谱） ： 工作原理：通过加热样品，使同位素离子化并加速，然后通过磁场和电场进行质量分析。 样品准备：需要精细的化学纯化步骤，样品涂敷在金属带上，需特殊

LA-ICP-MS测试技术的原理及应用

康派斯检测集团提供LA-ICP-MS（激光剥蚀电感耦合等离子体质谱）测试服务，这是一种高精度的微区元素和稳定同位素分析技术。LA-ICP-MS通过使用纳秒脉冲激光束去除样品表面的材料，实现样品的加热、蒸发和电离，产生颗粒和离子羽流，然后通过氩气和/或氦气流输送到ICP-MS进行分析 LA-ICP-MS测试（激光剥蚀电感耦合等离子体质谱仪）是一种先进的微区元素和同位素分析技术，它在

SIMS检测技术详解：方法、原理、参数、特点及应用范围

二次离子质谱仪(SIMS)是一种高空间分辨率、高精度、高灵敏度的分析方法。检出限一般为ppm-ppb级，空间分辨率可达亚微米级，深度分辨率可达纳米级。被广泛应用于化学、物理学、生物学、材料科学、电子等领域。康派斯就从SIMS检测基本原理、SIMS检测工作参数、SIMS检测定量分析、SIMS检测特点，SIMS检测应用范围、SIMS检测注意事项详细讲解

原子力显微镜（AFM）检测技术：原理、应用与研究进展综述

本文详细介绍了原子力显微镜（AFM）检测技术，包括其工作原理、模式、理想用途、优势强项、缺点限制、技术规格以及相关应用案例。 原子力显微镜（AFM）作为一种先进的检测技术，在材料科学、生物医学等多个领域发挥着重要作用。它能够提供近原子分辨率的图像，用于测量表面形貌，并对多种物理特性进行定性映射。 原子力显微镜AFM 检测技术的工作原理及模式 （一）工

X光光电子能谱学（XPS）检测：原理、应用与发展

康派斯检测介绍了 XPS（X - 射线光电子能谱）相关技术内容。包括：XPS 测试的基本原理、XPS 仪器组成、XPS 测试的工作流程、XPS 测试图谱分析、XPS 测试的应用领域、XPS 测试的优缺点、XPS 的数据分析步骤、XPS 测试的常见谱图特征、XPS 测试的未来发展方向以及XPS 测试常见的10个问题问答。

XPS 测试分析

本文详细介绍了康派斯公司所涉及的 XPS 检测技术。XPS 作为一种前沿的表面分析技术，具有元素种类检测广、化学状态分析精准、表面组成定量深入、表面污染识别精确等优势。文章阐述了其基本原理是利用光电效应测量材料表面逸出光电子动能来确定原子种类和化学状态。同时说明了 XPS 检测对样品的尺寸、清洁度、电导性和真空兼容性等有严格要求，并给出了详细的样品准备

一文详解XPS 检测分析原理及应用技术

康派斯检测介绍了 XPS（X - 射线光电子能谱）相关技术内容。包括： XPS 测试的基本原理、XPS 仪器组成、XPS 测试的工作流程、XPS 测试图谱分析、XPS 测试的应用领域、XPS 测试的优缺点、XPS 的数据分析步骤、XPS 测试的常见谱图特征、XPS 测试的未来发展方向以及XPS 测试常见的10个问题问答。 一、基本原理 X 光光电子能谱学（XPS）基于光电效应。当具有一定能量的 X 射线照射到材料

XPS 检测技术全面解析

深入了解X光光电子能谱学（XPS），一种揭示材料表面化学秘密的先进技术。探索XPS如何提供元素种类、化学状态、表面组成和污染的详细信息，以及其在材料科学和表面工程中的应用。 XPS检测技术简介 : X光光电子能谱学（XPS），亦称为电子能谱化学分析（ESCA），是一种前沿的表面分析技术。

透射电镜TEM测试

透射电子显微镜（TEM） 是一种利用高能电子束穿透超薄样品来获取材料内部结构图像的高分辨率显微镜。TEM广泛应用于材料科学、生物学、化学等领域，用于观察纳米级别的结构细节。以下是 透射电子显微镜（TEM） 的一些基本信息：包括 透射电镜TEM测试的工作原理、透射电镜TEM测试的优点、透射电镜TEM测试的制样要求、透射电镜TEM测试的制样方法、透射电镜TEM测试的测试目的

透射电镜（TEM）测试常见的9个问题

透射电镜（TEM）是一种强大的显微技术，用于研究材料的纳米级结构。本文通过九个问答的形式，概述了TEM技术的关键操作和常见问题。首先，介绍了碳管样品的分散方法和注意事项，强调了使用微栅网的重要性。其次，详细讨论了金属样品的制备流程，包括 切片、打磨、冲圆片、凹坑研磨、双喷电解、离子减薄和FIB制样 。接着，比较了TEM和STEM成像的原理和差异，并解释了明场

透射电镜（TEM）和扫描电子显微镜（SEM）在成像上的区别

本文通过五个问题探讨了 透射电镜（TEM） 和 扫描电子显微镜（SEM） 在成像原理上的差异、TEM与X射线衍射（XRD）在分析上的不同、制备10nm以下碳量子点样品的注意事项、薄膜样品制备过程中的预减薄和终减薄技术，以及TEM数据分析的方法。首先，解释了TEM依赖于透射电子和样品的质厚衬度及衍射衬度形成图像，而SEM则利用反射电子和样品表面的倾斜角度差异。其次，讨论了TE

碳粉的检测方法

碳粉检测机构通常是指那些专门提供碳粉（碳黑、炭黑）成分分析、性能测试和质量控制服务的实验室或公司。这些机构可以为各种行业提供服务，包括塑料、橡胶、涂料、油墨、电池、电子、环保等。碳粉检测机构的服务内容可能包括但不限于： 成分分析 ：确定碳粉中的化学成分，包括碳、氢、氧、氮、硫等元素的含量。 物理性能测试 ：测试碳粉的粒径分布、比表面积、密

一文了解电子能量损失谱（EELS）原理及特点

电子能量损失光谱（EELS）是一种在透射电子显微镜（TEM）中使用的分析技术，它通过测量电子束与样品相互作用后能量损失的电子来获取材料的化学和结构信息。EELS的原理基于电子与样品原子的非弹性散射事件，这些事件导致电子损失特定量的能量，这些能量损失与样品的元素组成、化学状态和结构特性直接相关。EELS能够检测从轻元素到重元素的广泛元素，并且具有纳米级别的

电子能量损失谱 (EELS)

电子能量损失光谱（EELS）是一种强大的显微分析技术，广泛应用于材料科学领域，特别是在纳米尺度材料的特性研究中。EELS通过分析与样品相互作用后的电子能量分布，能够提供关于材料的化学组成、电子结构和光学性质等关键信息。在半导体及电子器件领域，EELS能够测量材料的带隙变化，这对于理解器件性能至关重要。在陶瓷和高温超导体研究中，EELS揭示了晶体/非晶界面的

电子能量损失谱 (EELS)原理与应用

电子能量损失光谱（EELS）是一种分析技术，它通过研究与样品相互作用后的电子能量分布来获取信息。这种技术通常用于分析样品表面的几原子层，因为低能量电子（100-1000 eV）的穿透深度有限，通常需要在超高真空条件下进行以避免空气分子的干扰。 在低初级能量下，EELS设备能够将电子束的能量分散降低到几毫电子伏，如果分辨率足够高，可以获得与表面原子振动模式和价电

重金属检测常见的六种方法

康派斯作为一家专业的检测机构，凭借其先进的技术和设备，能够提供全面的金属检测服务。无论是采用 原子吸收光谱法（AAS）、紫外可见分光光度法（UV）、原子荧光法（AFS）、电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS），还是X射线荧光光谱法（XRF） ，康派斯都能够确保检测结果的准确性和可靠性。此外，康派斯还致力于提供快速响应和高效的服务，满足客户在不同应用场景下的需求

原子吸收光谱法（AAS）在半导体材料检测中的具体应用

原子吸收光谱法（AAS）是一种基于原子对特定波长光的吸收来进行元素定量分析的技术。在半导体材料检测中，AAS被广泛应用于金属杂质的检测，因为半导体材料的电学性能对金属杂质非常敏感。以下是AAS在半导体材料检测中的具体应用： 金属杂质分析 ：AAS能够检测半导体材料中的痕量金属杂质，如铜（Cu）、铁（Fe）、镍（Ni）、铬（Cr）等，这些金属杂质可能会影响半导体材

全面解析碳化硅材料测试分析、技术、方法

碳化硅（SiC），也称为硅碳化物或碳化硅，是一种由硅和碳组成的无机化合物，具有多种晶体形态，其中最常见的是六方晶系的-SiC和立方晶系的-SiC。碳化硅因其优异的物理和化学性质，如高硬度、高热导率、高化学稳定性和良好的电绝缘性，被广泛应用于多个领域，包括但不限于： 磨料和磨具 ：用于制造砂纸、砂轮和其他磨削工具。 电子器件 ：作为半导体材料，用于制造高功

原位红外光谱技术的应用

康派斯检测致力于通过原位红外光谱技术，为客户提供高质量的分析结果，助力科学研究和产品开发。以下详细介绍原位红外光谱技术的应用、原位红外光谱技术的优势、原位红外光谱技术的测试流程、原位红外光谱技术的操作步骤。

全面解析：高分子材料检测的关键步骤与标准

高分子材料检测步骤 高分子材料的物理性能测试通常包括多个步骤，以确保材料的质量和性能符合特定的应用要求。以下是一些常见的物理性能测试步骤： 样品准备 ： 根据测试标准，选择合适的材料样品。 确保样品尺寸和形状符合测试要求。 拉伸测试 ： 将样品固定在拉伸试验机上。 以恒定的速率拉伸样品，直到断裂。 记录拉伸过程中的力和位移数据。 计算拉伸强度、断裂

高分子材料检测技术分析

力学性能测试 1、SEM通过SEM对材料断口、裂纹、磨痕等进行观察，进而评价其力学性能 自从1965年第一台商品扫描电镜问世以来，经过40多年的不断改进，扫描电镜的分辨率从第一台的25nm提高到现在的0.01nm，而且大多数扫描电镜都能与X射线波谱仪、X射线能谱仪等组合，成了表面微观世界可经行综合分析的多功能电子显微仪器。在材料领域，扫描电镜技术扮演了极为重要的角色，广

高分子材料检测技术分析

高分子材料常见的检测技术有GPC、XRD、红外、质谱、偏光、SPM等，具体每种检测技术的原理、基础知识，还有每种技术都有哪些要点及难点，详细分析。 成分、结构分析 1、GPC分子量及其分布主要用于聚合物领域 以有机溶剂为流动相（氯仿，THF，DMF）； 常用固定相填料：苯乙烯-二乙烯基苯共聚物 分类 方法 固定相 平衡类型 气相色谱 气液色谱 液体吸附于固体 气液间分配 气固色

ICP-OES检测金属

ICP-OES（电感耦合等离子体发射光谱仪）分析铁、锰、铜、锌、钙元素含量的详细步骤。以下是对您提供信息的简要概述和补充说明： 测定原理 ：样品经过消解后，试液被导入ICP-OES进行分析。在特定元素的波长处测量其发射光谱的强度，并通过标准曲线法计算样品中元素的含量。 试样制备 ：样品去除杂质后，使用粉碎机粉碎并通过筛网，混合均匀后储存在干净的密闭容器中，室

纳米压痕技术介绍：测试项目、应用及测量影响因素

纳米压痕技术被称为深度敏感压痕技术，可在低至纳米尺度内获取材料的硬度、弹性模量、蠕变行为、断裂韧性等一些力学性能。通过控制载荷或者位移，使形状特定的压头与被测物体接触，压入过程中利用传感器采集信号，得到载荷-位移曲线，再由计算得到材料的弹塑性性能。以下详细介绍纳米压痕技术测试能力、纳米压痕技术全面的测试范围、纳米压痕技术-测量影响因素、

金属材料检测

金属材料检测内容 机械性能检测 ：包括拉伸试验、高低温拉伸试验、压缩试验、剪切试验、扭转试验、弯曲试验、冲击试验、硬度试验（如洛氏、布氏、维氏硬度试验）、压扁试验等。 化学成分分析 ：主要分析金属材料中的各种化学成分含量，如碳、硅、锰、磷、硫、镍、铬、钼、铜、钒、钛、钨、铅、铌、汞、锡、镉、锑、铝、镁、铁、锌、氮、氢、氧等。

纳米压痕技术的全面解析

纳米压痕技术，也被称为深度敏感压痕技术，是一种在纳米尺度内精确测量材料力学性能的方法。它通过控制载荷或位移，使特定形状的压头与被测物体接触，利用传感器实时记录载荷-位移数据，从而获取材料的硬度、弹性模量、蠕变行为、断裂韧性等关键力学参数。 纳米压痕技术应用范围 适用于各种材料：纳米压痕技术可用于有机或无机、软质或硬质材料的检测分析，包括但

XRR检测技术的原理、特点、制样要求及应用

XRR（X射线反射）英文X-ravreflectivity是一种非破坏性的表面和界面分析技术，广泛应用于薄膜和多层结构的物理特性研究。本文主要介绍XRR检测技术的原理、XRR检测技术的特点、XRR检测的制样要求,XRR检测的应用。

【全】XRF检测技术详解：原理、过程、特点、样品制备及常见问题

X射线荧光分析原理 XRF(X射线荧光)是一种用于测定材料中元素组成的无损分析技术。XRF 技术通过分析可样品由一级X射线源激发而散射出的荧光(或二级)X射线，来确定样品的化学属性。本文对XRF进行详细的分析，包括：XRF检测技术原理、XRF检测技术的过程、XRF检测技术的特点、XRF检测技术的样品制备要求及XRF检测常见26个问题。

【全】XRD检测技术详解：原理、应用、优势及样品制备指南

XRD检测简介 XRD（X-ray Diffraction）中文全称是X射线衍射，本文主要全面介绍XRD（X射线衍射），内容包括XRD检测的基本原理、XRD检测技术的主要应用、XRD检测技术的优势、XRD检测样品要求与制样方法、XRD检测实验的注意事项 、XRD检测的应用、XRD检测关键词、XRD测试的常见问题等。

俄歇电子能谱检测AES

俄歇电子能谱检测（AES） 俄歇电子能谱 (Auger Electron Spectroscopy,AES)是用具有一定能量的电子東(或X射线)激发样品俄歇效应，通过检测俄歇电子的能量和强度，从而获得有关材料表面化学成分和结构信息的方法。 AES主要可以用于:固体表面元素定性分析、表面表面微区分析(线扫描、面扫描)、原子的化学结合状态分析、元素沿深度方向的分布分析，表面元素半定量分析等。 在材料科

糖类质谱分析 糖类色谱分析

本实验选择使用液相糖分析柱Hi-Plex Ca, 300×7.7 mm， 1 mL/min 纯水流动相，对果糖、葡萄糖、蔗糖和山梨醇四种 糖进行分离，其中果糖和葡萄糖为同分异构体，用该色谱柱 可以得到很好的分离，每种化合物的峰形都很对称，峰形较峰形较好。图 1 为 1ppm（μg/mL）果糖、葡萄糖、蔗糖 和山梨醇标准品的

AC-STEM(球差校正电子扫描显微镜)测试中心

AC-STEM(球差校正电子扫描显微镜)测试中心 球差校正电子扫描显微镜（AC-STEM） 去哪里检测? 球差校正电子扫描显微镜（AC-STEM）测试中心 。康派斯质量检测中心可提供 球差校正电子扫描显微镜（AC-STEM）技术 ，拥有正规的材料检测实验室，检测仪器齐全，科研团队强大，5-7个工作日可出具 球差校正电子扫描显微镜（AC-STEM） 检测报告，支持全国上门取样、寄样检测服检测周期短检

电子背向散射衍射（EBSD）检测机构

电子背向散射衍射（EBSD）检测机构 EBSD技术在半导体、微电子和存储器领域的应用 电子背向散射衍射（EBSD） 去哪里检测? 电子背向散射衍射（EBSD） 第三方检测机构。下面讲解EBSD技术在半导体、微电子和存储器领域的应用,康派斯质量检测中心可提供 电子背向散射衍射（EBSD）技术 ，拥有正规的材料检测实验室，检测仪器齐全，科研团队强大，5-7个工作日可出具 电子背向散射衍

扫描电镜SEM在锂离子电池中的应用

扫描电镜SEM在锂离子电池中的应用 锂离子电池（LIB）是21世纪以来最为热门的储能器件之一，具有能量密度高、单体输出电压高、循环性能优越、可快速充放电和使用寿命长等优点，被广泛应用于消费电子产品、电动汽车和新能源电站的储能电源系统等。 LIB主要是由正极材料、负极材料、隔膜、电解液和外壳组成。

GDMS(辉光放电质谱法)测定合金钢中各元素的相对灵敏度因子

辉光放电质谱法测定合金钢中各元素的相对灵敏度因子 采用辉光放电质谱法（GDMS）分析合金钢中元素相对灵敏度因子（RSF），优化放电电流、气体流量和预溅射 时间等条件，排除质谱干扰并选定合适同位素。研究不同放电条件对元素 RSF 的影响，并比较不同基体下 RSF 的差 异。通过合金钢标准样品建立回归曲线，获得校正后的相对灵敏度因子 (RSFsteel)，用于定量分析。结果表明

不仅仅是测试-您的一站式解决方案

由于希望提高功能、缩小外形尺寸和管理供应链，开发可靠的产品面临许多挑战。随着技术的不断进步，人们也越来越期望购买的任何产品既可靠又按设计工作。 一站式服务 康派斯在从概念到批量生产的整个产品生命周期中为公司提供了30多年的支持。一个例子是我们的测试服务，它提供 24/7 全天候生产、中试、原型测试以及租用我们的工具进行现场程序的能力。 管理打包过程

在不损坏设备的情况下对CSP执行可靠性鉴定测试

系统小型化，特别是在手机市场，正在推动先进封装技术的发展，以适应薄至6毫米（mm）或更小的产品。不幸的是，传统的环氧树脂塑料封装根本不足以构建这些极薄的智能手机和其他移动设备，因为它们的占地面积比它们容纳的芯片大6倍。 手机和其他手持和可穿戴电子产品的首选解决方案是芯片级封装（CSP），其尺寸与芯片本身相同。CSP使用焊球直接连接到电路板上。不幸的

将次氯酸钠废液百分百回收的新技术

一种将次氯酸钠废液变成宝的新技术，通过汽提尾气回收装置回收废次氯酸钠中含有的乙炔气，大幅下降了生产PVC树脂产品的电石消耗，通过对废次氯酸钠进行复配，使其浓度增加，实现重复利用。 PVC树脂生产过程中要去除电石中的硫、磷等杂质，需要使用次氯酸钠作为清净剂，以往产生的废液如果回收利用，工艺技术要求高、难度大、不易掌握；如果直接排放将会带来很大的

电缆成束燃烧实验方法EN 50399和EN 60332-3异同解析

电缆成束燃烧实验方法EN 50399和EN 60332-3异同解析 1988年颁布针对建筑相关产品89/106/EEC（CPD），2011年发布新的CPR指令取代CPD，但一直未涵盖建筑用的线缆产品。2016年7月1日，欧盟发布的官方公报中包含具有CE标志的电线电缆在火灾中的安全要求，自此所有出口欧盟建筑中用的电力、通讯、控制电缆需要满足CPR的要求（EN 50575）并于2017年7月1日正式生效。 按照电缆CE认证标准EN 50575:

负责任投资与企业ESG管理

负责任投资与企业ESG管理 2021年10月，中国农业银行正式签署联合国《负责任银行原则》（Principles for Responsible Banking，PRB），成为联合国环境规划署金融倡议（UNEP FI）组织成员。至此，PRB全球签署成员数量达260个，资产总额高达70万亿美元，占全球银行业资产总额的40%以上。 其中，中资银行共计15家，分别是中国农业银行、中国银行、兴业银行、工商银行、邮储银行、华夏银行、

康派斯材料实验室多轴冲击测试

冲击实验也有高大上 - 记康派斯材料实验室多轴冲击测试 WHY多轴冲击测试？ 对于汽车和航空航天行业而言，为确保安全性，在开发过程中会着重考察用于内

康派斯提供医疗器械一站式服务

从全球市场准入到体系认证，康派斯提供医疗器械一站式服务 随着欧盟医疗器械法规Regulation EU 2017/745的实施，进入欧盟的医疗器械产品将强制符合此法规的要求。不同的医疗器械按照不同的分级需要满足的要求不同。

GDMS（辉光放电质谱）

GDMS（辉光放电质谱）：固体直接进样与全元素分析的革命性突破 在现代材料科学领域中，对材料的成分和纯度进行精确分析是至关重要的。辉光放电质谱（GDMS）以其独特的固体直接进样、无标样定量和全元素同时分析等特性，成为了材料分析领域的革新者。本文将详细介绍辉光放电质谱（GDMS）的特点、测试原理、应用领域以及样品要求，展现其在材料分析领域的卓越性能。

辉光放电质谱（GDMS）价格

辉光放电质谱（GDMS）能做哪些检测？辉光放电质谱（GDMS）能检测哪些产品？ 辉光放电质谱（GDMS） 价格？下面讲解GDMS技术在半导体、非半导体、金属领域的应用,康派斯质量检测中心可提供辉光放电质谱（GDMS） 技术 ，拥有正规的材料检测实验室，检测仪器齐全，科研团队强大，5-7个工作日可出具辉光放电质谱（GDMS）检测报告，支持全国上门取样、寄样检测服检测周期短检测费

残余气体分析（RGA）检测中心

残余气体分析（RGA）的基本概念 残余气体分析（Residual Gas Analysis，简称RGA）是一项重要的分析技术，旨在检测密封器件内部的气氛成分及含量。它也常被称作内部水汽分析（Internal Moisture Analysis，IVA）或内部蒸气分析（Internal Vapor Analysis），这是因为水汽等气体对器件的性能和寿命具有显著影响。 残余气体分析（RGA）的应用背景 密封电子元器件的内部气氛对其性能、寿命和可靠

残余气体分析（RGA）检测机构

残余气体分析仪（RGA）去哪里检测?残余气体分析仪（RGA）第三方检测机构。下面讲解残余气体分析仪（RGA）的多元化应用,康派斯质量检测中心可提供残余气体分析仪（RGA） 技术 ，拥有正规的材料检测实验室，检测仪器齐全，科研团队强大，5-7个工作日可出具残余气体分析仪（RGA）检测报告，支持全国上门取样、寄样检测服检测周期短检测费用低检测数据科学准确。

残余气体分析（RGA）测试

残余气体分析（Residual Gas Analysis，简称RGA）是一种用于分析真空系统中残余气体成分的技术，通常使用质谱仪作为检测器。以下是进行RGA检测的一般步骤、检查标准、检测仪器和检测项目： 残余气体分析（RGA）检测步骤： 样品准备 ：将真空系统连接到RGA分析仪器。 系统抽真空 ：使用真空泵将系统抽至所需的真空度。 数据采集 ：开启RGA仪器，开始采集残余气体的质谱数据。

纳米压痕(NI)技术-第三方检测机构

纳米压痕(NI)技术：材料力学特性的微观探索 技术概览 纳米压痕NI技术是一种精密的物理测试手段，它通过控制一个微小的压头对材料表面施加力，并监测其压入深度，从而揭示材料的深层力学特性。这项技术在材料科学、纳米技术、生物工程等领域发挥着关键作用。 应用领域概览 纳米压痕技术的应用横跨多个工业和学术领域，包括： 半导体工业 ：用于评估半导体材料的机械稳

危险化学品鉴定

危险化学品鉴定：深入解析第三方鉴定技术与标准 一、危险化学品鉴定的重要性 危险化学品（Dangerous Goods，简称DG）由于其潜在的爆炸、易燃、毒害、腐蚀等特性，在运输和储存过程中需要特别防护。危化品鉴定是确保这些物质安全性的关键步骤，它帮助确定化学品的危险特性，并提供必要的安全信息。 二、危化品鉴定内容 危化品鉴定通常包括以下内容： 物理危险性测试 ：包

ISO21001体系认证助力教育组织提升服务品质

随着国家出重拳整顿校外补习机构，提出对教培行业进行整改，教培行业井喷式发展时代已然终结。巴菲特说过：只有当潮水退去的时候，才知道是谁在裸泳。 没有了资本的包装，回归教育的本质是大势所趋。但教培行业虚假宣传的乱象严重，非一朝一夕能清理，所以需要我们擦亮慧眼，发掘那些真心在做教育、真正服务于学习者的良心机构，让教育回归育人的本质。

重要通知 | 科威特将于2022年3月1日起对进口玩具产品，要求提供GCTS证书

重要通知 | 科威特将于2022年3月1日起对进口玩具产品，要求提供GCTS证书 科威特工业管理局对外公布，为符合科威特符合性保证计划（KUCAS）的程序，从2022年3月1日开始，进口至科威特的所有玩具产品，除需附带相关测试报告，在玩具上标识带有二维码的G-mark以外，还需附带相关玩具产品的GCTS证书，才可进入清关步骤。针对带电玩具，科威特还要求进口其国家的带电玩具产品需出