成分分析和材料鉴定方法可用于确定未知材料的成分，确认可疑材料的身份并识别相似材料之间的差异。未知成分通常是导致困难的根本原因，因此识别未知材料的存在非常重要。康派斯通过使用单个和组合的成分分析技术以及专家数据解释，在识别和表征未知物分析方面积累了专业知识。

康派斯的专家团队已经确定了在涂料，塑料，食品，消费品，化学品，药品，医疗设备，半导体，消费品，添加剂，粘合剂等中（或在其上）发现的多种类型的材料。我们的实验室已经确定了以下材料：

• 表面上的未知残留物
• 未知粒子
• 未知的有机和无机材料
• 未知异物
• 未知添加剂或表面活性剂

一旦我们确定了材料的化学性质，通过进一步的材料表征来更好地了解成分可能变得很重要。有了这些信息，我们能够帮助客户：

• 确定所识别材料的潜在来源
• 比较两种不同材料的化学成分
• 确认可疑材料的身份
• 识别来自潜在竞争对手或产品新供应商的材料

成分分析的首选技术取决于许多因素：

• 对样品已经了解多少？
• 什么需要量化（主要元素、次要元素、化学成分或分子/有机成分）？
• 这是表面分析、体积分析还是层分析？
• 可以使用破坏性测试方法吗？
• 样本是否唯一？

为了了解产品的配方，康派斯的逆向工程（配方还原）服务可帮助客户了解其产品的化学成分。了解有关变形的更多信息。

表面分析

元素和化学表面成分最好使用信息深度较浅（<100 Å）的定量技术进行测量，例如俄歇电子能谱（通常仅导电材料）或X射线光电子能谱（所有材料）。

批量分析

最好使用具有大/深信息深度的技术来确定，这些技术忽略了表面上的潜在成分变化。这些方法通常不提供特定深度的信息。X射线荧光（XRF）和电感耦合等离子体发射光谱（ICP-OES）是最相关的技术，可以量化主要和次要元素成分。傅里叶变换红外光谱 （FTIR） 和拉曼光谱非常适合识别塑料、聚合物和其他有机材料。

薄膜分析

分析薄层和薄膜的技术取决于所需的信息和样品特性。对于薄膜中已知主要元素的定量，卢瑟福背散射光谱法（RBS）是首选技术。如果对薄膜的主要未知成分是什么感兴趣，X射线光电子能谱（XPS）是一个不错的选择。如果分析区域的大小（以及导电性）受到限制，则可以使用俄歇电子能谱（AES）。二次离子质谱（SIMS）在半导体薄膜的高精度成分测量方面具有广泛的应用。傅里叶变换红外光谱（FTIR）和拉曼光谱非常适合从有机薄膜中获取化学或分子信息。

您也可以致电400-9621-929与我们联系或填写下方表格，让专家工程师和您讨论具体的需求。