材料测试分析鉴定

成分分析和材料鉴定方法可用于确定未知材料的成分,确认可疑材料的身份并识别相似材料之间的差异。未知成分通常是导致困难的根本原因,因此识别未知材料的存在非常重要。康派斯通过使用单个和组合的成分分析技术以及专家数据解释,在识别和表征未知物分析方面积累了专业知识。

康派斯的专家团队已经确定了在涂料,塑料,食品,消费品,化学品,药品,医疗设备,半导体,消费品,添加剂,粘合剂等中(或在其上)发现的多种类型的材料。我们的实验室已经确定了以下材料:

  • 表面上的未知残留物
  • 未知粒子
  • 未知的有机和无机材料
  • 未知异物
  • 未知添加剂或表面活性剂

一旦我们确定了材料的化学性质,通过进一步的材料表征来更好地了解成分可能变得很重要。有了这些信息,我们能够帮助客户:

  • 确定所识别材料的潜在来源
  • 比较两种不同材料的化学成分
  • 确认可疑材料的身份
  • 识别来自潜在竞争对手或产品新供应商的材料

成分分析的首选技术取决于许多因素:

  • 对样品已经了解多少?
  • 什么需要量化(主要元素、次要元素、化学成分或分子/有机成分)?
  • 这是表面分析、体积分析还是层分析?
  • 可以使用破坏性测试方法吗?
  • 样本是否唯一?

为了了解产品的配方,康派斯的逆向工程(配方还原)服务可帮助客户了解其产品的化学成分。了解有关变形的更多信息。

表面分析

元素和化学表面成分最好使用信息深度较浅(<100 Å)的定量技术进行测量,例如俄歇电子能谱(通常仅导电材料)或X射线光电子能谱(所有材料)。

批量分析

最好使用具有大/深信息深度的技术来确定,这些技术忽略了表面上的潜在成分变化。这些方法通常不提供特定深度的信息。X射线荧光(XRF)电感耦合等离子体发射光谱(ICP-OES)是最相关的技术,可以量化主要和次要元素成分。傅里叶变换红外光谱 (FTIR)拉曼光谱非常适合识别塑料、聚合物和其他有机材料。

薄膜分析

分析薄层和薄膜的技术取决于所需的信息和样品特性。对于薄膜中已知主要元素的定量,卢瑟福背散射光谱法(RBS)是首选技术。如果对薄膜的主要未知成分是什么感兴趣,X射线光电子能谱(XPS)是一个不错的选择。如果分析区域的大小(以及导电性)受到限制,则可以使用俄歇电子能谱(AES)二次离子质谱(SIMS)在半导体薄膜的高精度成分测量方面具有广泛的应用。傅里叶变换红外光谱(FTIR)拉曼光谱非常适合从有机薄膜中获取化学或分子信息。

您也可以致电400-9621-929与我们联系或填写下方表格,让专家工程师和您讨论具体的需求。

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