辉光放电质谱(GDMS)

辉光放电质谱仪(GDMS)是一种非常灵敏且功能强大的分析工具,可监测材料中的元素组成和杂质,直至 跟踪和超跟踪 质量分数水平。 它是一种高分辨率质谱技术,它基于辉光放电原子化/电离源与扇形场质量分析器相结合。 除了完整的调查元素覆盖范围外,如果在平面采样几何结构中进行测量,则可以非常高的灵敏度评估元素的深度特定分布。

材料中未知或不需要的杂质通常会导致材料科学家或工程师的“刺激性”分心。 因此,首选更高纯度的材料,以消除可能影响性能、可靠性、使用寿命和安全性的不良缺陷。 另一方面,故意向材料中添加杂质可以引入以前无法通过电子、光子、声子、原子和分子评估的能级,从而为发现新的特性调整现象创造了巨大的机会。 GDMS 是一种强大的杂质分析工具。

理想用途

  • 对先进材料(金属,合金, 石墨,电子材料, 氧化物和陶瓷)
  • 纯度认证高达99.99999%(7N)
  • 深度特定的迹线和超迹线分布测量
  • 来自有限量样品的未知物的可追溯性
  • 颗粒材料和工程涂料的化学表征

优势强项

  • 全面调查所有稳定同位素,H除外
  • 十亿分之一的灵敏度
  • 有限的矩阵效应
  • 线性校准
  • 鲁棒性
  • 具有高灵敏度的分析物的深度特定分布测量

缺点限制

  • 无液体
  • 真空稳定性

技术规格

  • 检测到的信号: 质量分辨正离子
  • 涵盖的元素: 除H外,所有元素的稳定同位素
  • 灵敏度: 十亿分之一或ppbw
  • 典型的采样区域: 50-80 毫米2

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