中子衍射是一种利用中子在结晶体中的散射来确定其晶体结构的技术。它与X射线衍射类似，但由于中子相对较重且具有磁性，所以能够提供不同的信息和优势。
1.中子衍射原理
中子衍射原理基于布拉格定律，即当入射中子角度等于出射角度时，会发生衍射现象。当中子通过晶体时，会被晶格的原子核和电子散射，这些散射会使得中子按照特定的方向衍射出来。
2.中子衍射的特点
中子衍射可用于确定化合物分子的位置、解析晶体结构和检测晶体缺陷等，因此在材料科学、物理学、化学和生物学等领域有着广泛应用。相比于X射线衍射，中子衍射可以更准确地确定轻元素（如氢、锂等）的位置，而且不会对样品造成较大的辐射损伤。中子衍射还具有对材料磁性和氢同位素的分析能力，这些特点使它成为研究新型功能材料的重要手段之一。
3.中子衍射的应用
中子衍射广泛应用于固体、液体和气体的结构研究。其中，其在材料科学领域的应用更是丰富多彩。例如，在电池材料研究中，中子衍射可以确定锂离子在正极和负极材料中的位置和迁移方式，进而指导新型电池的设计和开发；在催化剂研究中，中子衍射可以揭示催化剂中活性物种的位置和结构，从而优化催化反应过程；在聚合物研究中，中子衍射可以确定聚合物链的折叠状态和互相间的排列顺序，有助于制备高性能功能性聚合物。
材料测试其他相关技术
| 类别 | 相关技术 |
| 成像学 | 原子力显微镜(AFM)、蛋白芯片扫描、能量色散X射线光谱(EDS)、扫描电子显微镜(SEM)、基因芯片扫描、扫描声学显微镜(SAM)、进动电子衍射(PED)、原子探针断层扫描(APT)、透射电镜(TEM)、球差校正扫描透射电子显、聚焦离子束(FIB)、阴极荧光光谱/阴极发光扫、冷冻扫描电镜(CryO-SEM)、电子東感应电流(EBIC)、组织芯片扫描 |
| 光谱学 | 电子背向散射衍射 (EBSD)、X 射线衍射 (XRD)、石墨炉原子吸收光谱法、中子衍射、激光行射法 (LDPS)、光学轮廓测量 (OP)、氢前向散射光谱 (HFS)、X 射线荧光 (XRF)、折射仪折光仪测试 (RM)、傅里叶变换红外光谱 (FTI)、激光诱导击穿光谱 (LIBS)、粒子诱导的 X 射线发射 (PI)、拉曼光谱法 (Raman)、X 射线反射率 (XRR)、紫外 / 可见光 / 近红外光谱、电子能量损失谱 (EELS)、纳米压痕 (NI)、同步辐射 X 射线荧光分析、全反射 X 射线荧光 (TXRF)、发射率 / 热辐射比 (EV)、原位 XRD、卢瑟福背散射 (RBS)、核磁共振光谱 (NMR)、原位傅里叶变换红外、X 射线光电子能谱 XPS 光谱、电热汽化 ICP 光学发射光谱、同步辐射吸收谱 (XAFS)、椭圆偏振光谱法 (SE)、核反应分析 (NRA)、原位 X 射线光电子能谱、俄歇电子能谱 (AES/Auger) |
| 色谱学 | 凝胶渗透色谱 (GPC)、气相色谱 - 质谱法 (GC-MS)、液相色谱 - 串联质谱 (LC-MS-MS)、仪器气体分析 (IGA)、残余气体分析 (RGA)等 |
| 质谱学 | 高分辨率质谱 (HRIS)、电感耦合等离子体发射光谱、气相色谱 - 串联质谱 (GC-MS)、电感耦合等离子体质谱、热解气相色谱 / 质谱 (GC-MS)、二次离子质谱 (SIMS)、仪器气体分析 (IGA)、液相色谱质谱 (LC-MS)、激光剥蚀电感耦合等离子、飞行时间二次离子质谱、气相色谱 - 质谱 (GC-MS)、基质辅助激光解吸 / 电离、电感耦合等离子体 (ICP)、辉光放电质谱 (GDMS) |
| 理化学 | 差示扫描量热法 (DSC)、固体和液体的密度测走、材料测试分析鉴定、镀层分析、X 射线实时成像 (RTX)、膨胀扩张测量法 (Dilatomet)、材料表征分析、翘曲分析、张力测量法 (TSM)、破坏性物理分析 (DPA)、材料失效分析、污染物识别、热重 - 差热分析 (TG-DTA)、痕量微量元素分析、表面分析、盐雾测试、接触角和液滴形状测量、化学分析、电子故障分析、表面积和孔径测定 (BET-DF)、差分霍尔效应计量 (DHEM) |
| 功能测试 | 功能测试相关内容包括电子测试与可靠性，失效分析、涵盖 ATE，ESD 测试，故障分析，FIB 电路编辑，老化和 REL，PCB 设计和翘曲分析等 |
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