项目介绍

原位傅里叶红外光谱（in situ FTIR）是一种用于在固体、气体以及液体材料中研究分子结构的非侵入式方法。它主要通过对样品反射或透射的可见和近红外线进行监测，获得样品中不同化学键振动所产生的特征吸收峰。

在这种过程中，FTIR 光源起着至关重要的作用，它必须能够提供高强度和连续性波长范围内所需波长和功率。同时，为了选择合适的电源，减少数据偏差并延长设备寿命，在确定FTIR 光源时还需要考虑其稳定性和经济效益等因素。

一般来说，常用于 in situ FTIR 的两种主要类型共面元件与迈克尔森干涉型称之为 Michelson 模式 。前者将激发辐射汇聚到单个检测点上，后者则采用干涉仪折叠光路，从而在全波长范围内扫描。

可做测试项目：

1.粉体常规压片测试、ATR测试、液体池测试；

2.可做样品形态：粉末、块体、薄膜、液体；

3.测试模式：透过率、吸收（吸光度）;

4.氩气，氮气，CO，CO2，H2等；

5.加光，氙灯；

6.加热：最高800度；

样品要求

样品要求：粉体样品100mg以上；薄膜：20×20mm以上，厚度不超过200微米以下（对于厚度大的样品常温下，常规透过模式信号好的话可以尝试）；液体提供0.5ml以上；（由于原位测试的复杂性，请尽量提供一份备用样）

 

材料测试其他相关技术

类别	相关技术
成像学	原子力显微镜(AFM)、蛋白芯片扫描、能量色散X射线光谱(EDS)、扫描电子显微镜(SEM)、基因芯片扫描、扫描声学显微镜(SAM)、进动电子衍射(PED)、原子探针断层扫描(APT)、透射电镜(TEM)、球差校正扫描透射电子显、聚焦离子束(FIB)、阴极荧光光谱/阴极发光扫、冷冻扫描电镜(CryO-SEM)、电子東感应电流(EBIC)、组织芯片扫描
光谱学	电子背向散射衍射 (EBSD)、X 射线衍射 (XRD)、石墨炉原子吸收光谱法、中子衍射、激光行射法 (LDPS)、光学轮廓测量 (OP)、氢前向散射光谱 (HFS)、X 射线荧光 (XRF)、折射仪折光仪测试 (RM)、傅里叶变换红外光谱 (FTI)、激光诱导击穿光谱 (LIBS)、粒子诱导的 X 射线发射 (PI)、拉曼光谱法 (Raman)、X 射线反射率 (XRR)、紫外 / 可见光 / 近红外光谱、电子能量损失谱 (EELS)、纳米压痕 (NI)、同步辐射 X 射线荧光分析、全反射 X 射线荧光 (TXRF)、发射率 / 热辐射比 (EV)、原位 XRD、卢瑟福背散射 (RBS)、核磁共振光谱 (NMR)、原位傅里叶变换红外、X 射线光电子能谱 XPS 光谱、电热汽化 ICP 光学发射光谱、同步辐射吸收谱 (XAFS)、椭圆偏振光谱法 (SE)、核反应分析 (NRA)、原位 X 射线光电子能谱、俄歇电子能谱 (AES/Auger)
色谱学	凝胶渗透色谱 (GPC)、气相色谱 - 质谱法 (GC-MS)、液相色谱 - 串联质谱 (LC-MS-MS)、仪器气体分析 (IGA)、残余气体分析 (RGA)等
质谱学	高分辨率质谱 (HRIS)、电感耦合等离子体发射光谱、气相色谱 - 串联质谱 (GC-MS)、电感耦合等离子体质谱、热解气相色谱 / 质谱 (GC-MS)、二次离子质谱 (SIMS)、仪器气体分析 (IGA)、液相色谱质谱 (LC-MS)、激光剥蚀电感耦合等离子、飞行时间二次离子质谱、气相色谱 - 质谱 (GC-MS)、基质辅助激光解吸 / 电离、电感耦合等离子体 (ICP)、辉光放电质谱 (GDMS)
理化学	差示扫描量热法 (DSC)、固体和液体的密度测走、材料测试分析鉴定、镀层分析、X 射线实时成像 (RTX)、膨胀扩张测量法 (Dilatomet)、材料表征分析、翘曲分析、张力测量法 (TSM)、破坏性物理分析 (DPA)、材料失效分析、污染物识别、热重 - 差热分析 (TG-DTA)、痕量微量元素分析、表面分析、盐雾测试、接触角和液滴形状测量、化学分析、电子故障分析、表面积和孔径测定 (BET-DF)、差分霍尔效应计量 (DHEM)
功能测试	功能测试相关内容包括电子测试与可靠性，失效分析、涵盖 ATE，ESD 测试，故障分析，FIB 电路编辑，老化和 REL，PCB 设计和翘曲分析等

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