XRR检测技术的原理、特点、制样要求及应用

XRR(X射线反射)英文X-ravreflectivity是一种非破坏性的表面和界面分析技术,广泛应用于薄膜和多层结构的物理特性研究。本文主要介绍XRR检测技术的原理、XRR检测技术的特点、XRR检测的制样要求,XRR检测的应用。

阅读:10147+ 时间:2024-07-24 源于:51 作者:ccpst 电话:400-9621-929

XRR(X射线反射)英文X-ravreflectivity是一种非破坏性的表面和界面分析技术,广泛应用于薄膜和多层结构的物理特性研究。本文主要介绍XRR检测技术的原理、XRR检测技术的特点、XRR检测的制样要求,XRR检测的应用。XRR它可以用来测量薄膜的厚度、表面和界面的粗糙度以及密度等参数。XRR是一种分析薄膜厚度、粗糙度、密度的表面分XRRD析方法。XRR 的基本原理是利用x射线在薄膜表面及界面的反射及折射光的相互干涉,它和我们了解的 XRD 的衍射原理无关,因此 XRR 不止可以分析结晶薄膜,也可以分析无定形薄膜

XRR检测的原理

XRR是一种方便、快速的分析单层或多层薄膜和表面的方法,是一种纳米尺度上的分析方法,同时可实现无损分析。例如,通过原子层沉积(ALD)技术沉积的薄膜可以用XRR表征薄膜的厚度、密度和界面的粗糙度,同样也适用于其他方法制备的薄膜,如通过分子层沉积(MLD)沉积的有机/无机超晶格。与光学椭偏法不同,该方法不需要预先了解薄膜的光学性质,也不需要假设薄膜的光学性质。然而,XRR检测技术不能提供有关材料晶体结构的信息,并且多层膜只能在有限的深度内表征。

XRR分析可以在晶体和非晶材料上进行,当X射线以掠入射角度照到材料平面上时,在某个特定角度下将会发生全反射现象,这个角非常小,称为临界角(θc)。角度的变化取决于材料的密度。入射X射线的角度相对于临界角越高,X射线透射到材料中的深度就越深。对于表面理想平坦的材料,反射率强度在超过临界角的角度上以θ-4的比例陡降。

在XRR分析中,X射线源提供高亮度的X射线束,以非常低的入射角从平面反射。XRR系统测量在镜面方向反射的x射线的强度。如果层与层之间的界面或者层与衬底之间的界面,不是完美的锐利和光滑,那么反射强度将偏离菲涅耳反射率定律(the law of Fresnel reflectivity)所预测的强度。然后可以分析X射线反射测量的偏差,以获得与表面法向的界面密度剖面,同时通过专业软件建模、拟合分析来确定膜层厚度,密度和界面粗糙度。

康派斯检测集团是一家专业的第三方检测机构,提供包括X射线反射率(XRR)在内的多种检测服务,如有需要可联系相关工程咨询。

XRR检测的用途

高精度的薄膜厚度和密度量测

量测薄膜或界面粗糙度

XRR检测的样品要求

表面光滑、均匀的样品(roughness < 3~5nm)

沿着X射线方向,样品长度至少3-5mm

XRR测试的原理

1. 反射原理:

    XRR基于X射线在材料表面和界面的反射原理。当X射线以极小的入射角(接近于材料表面)照射到样品上时,大部分光线会被反射,只有少部分进入材料内部。这是由于X射线与电子云相互作用产生的散射效应。

2. 临界角:

    对于给定的材料,存在一个临界角,低于这个角度的X射线几乎全部反射。该临界角与材料的电子密度有关,通过测量临界角可以推算出材料的密度。

3. 干涉效应:

    X射线不仅在样品表面反射,还在样品的每个界面反射。这些反射波会产生干涉,类似于光在薄膜中产生的干涉。通过分析干涉模式,可以得到薄膜的厚度、密度和界面粗糙度等信息。

4.反射曲线(XRR曲线):

    XRR数据通常呈现为反射强度与入射角的函数,即XRR曲线。该曲线通过Kiessig振荡(干涉条纹)揭示了薄膜的结构特性。振荡的周期与薄膜厚度成反比,振荡的衰减则与界面粗糙度有关。


XRR检测的主要特点

a)可用于分析单晶、多晶、无定形、可见光下不透明材料等

6)即能分析单层薄膜,也能分析多层薄膜

c)可分析膜层厚度为纳米级(约 0.1~1000nmm)

d)测试准确且敏感,对样品表面和界面粗糙度要求高(<3~5nmm)

e)测试过程快速且无损

D 数据需要计算分析,多层膜分析建模具备一定难度

g)无法分辨电子密度相当的膜层

XRR检测的应用

1. 薄膜厚度测量:

    精确测量纳米到微米范围的薄膜厚度,对于半导体、光电子和纳米技术领域至关重要。

2. 界面和表面粗糙度:

    评估薄膜的表面和界面粗糙度,这对于薄膜的光学和电子特性有显著影响。

3. 密度和组成:

    通过反射曲线分析获得薄膜的电子密度,进而可以推算出材料密度和组成。

4. 多层结构分析:

    分析多层薄膜结构,如磁性多层膜、超导体、反射镜等,用于研究各层的厚度、密度、粗糙度等。

5. 质量控制:

    在工业生产中,XRR用于监测和控制薄膜生长过程,确保产品质量。

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