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康派斯 ● 第三方权威测试机构

提供 材料分析测试 解决方案

「 材料表征测试 」「 物体表面分析 」「 微量元素分析 」「 电子显微镜成像 」「 镀层分析 」「 失效分析 」

康派斯仪器设备测试范围

针对多领域不同客户的需求,康派斯为每一位客户提供针对性(定制化)技术解决方案

  • 仪器名称 仪器简称 理想用途
    扫描电子显微镜 SEM 高分辨率材料形貌图像;组织观察;元素微量分析和颗粒表征;在深入研究高级扫描电子显微镜TEM/STEM 成像之前进行体积剖面检查
    透射电子显微镜 TEM 观察纳米粒子的形貌、评估纳米粒子的粒径;识别集成电路上的纳米级缺陷,包括嵌入颗粒和通孔残留物;催化剂研究;晶体缺陷表征;低温晶相研究
    原子力显微镜 AFM 评估晶圆上的晶圆或薄膜加工前后;检查表面粗糙度对粘附力的影响;确定形态是否是表面雾霾的来源;绘制激活载波的分布图;表征导电薄膜的均匀性
    SEM-EDS联用测定仪 SEM-EDS 材料形貌,组织观察;元素定性半定量分析,针对粉末或者比较小的固体样品,可以进行点、线、面扫描测试
    原子探针断层扫描 APT 3D结构分析,光伏中的弯曲或不均匀晶界;纳米级沉淀物和基体分析;轻元素分析 — Be、B、Li、C和Al,例如锂离子电池;存储器和锂离子电池表面涂层的2D和3D低浓度掺杂剂分析
    聚焦离子双光束 FIB 扫描电镜、STEM 和透射电镜样品制备;通过原位提升进行微量取样;小型样品特征的高分辨率横截面图像分析
    电子束感应电流 EBIC 半导体故障分析–深度FA的缺陷定位;器件表征–结点位置和少数载流子扩散长度分析
    进动电子衍射 PED 多晶材料的结构分析,如半导体金属线、通过沉积、金属/陶瓷膜、多晶膜;单晶的应变水平映射,如应变Si/SiGe、III-V族材料量子阱器件
    阴极发光扫描电子显微镜 SEM-CL 材料表征–晶体缺陷、带隙测定、带隙内陷阱状态、成分、掺杂剂;半导体故障分析–设备内的缺陷定位,以进行更深入的故障分析
    扫描声学显微镜 SAM 界面分层;接头、粘接和密封分析;裂纹检测–晶圆、芯片和封装级别;印刷电路板异常分析;薄膜、钎焊、焊接和其他界面的成像附着力
    能量色散X射线光谱 EDS 使用 SEM/TEM 成像的小区域的元素组成;缺陷识别/映射
    球差校正扫描透射电子显微镜 AC-STEM 提供埃级信息的成像;提供的分辨率和灵敏度的提高普遍适用于纳米级材料的研究
  • 仪器名称 仪器简称 理想用途
    俄歇电子能谱 AES/Auger 缺陷分析;粒子分析;表面分析;小面积深度剖析;薄膜分析组合物;冶金分析
    电子背向散射衍射 EBSD 具有空间坐标的微观结构可视化;表征特殊晶界;测量晶粒取向错误;外延生长薄膜的表征;通过检查横截面来表征深度纹理
    电子能量损失谱 EELS 元素识别和映射;元素鉴定(斑点分析、线扫描、二维化学图);化学指纹识别(有限情况)
    电感耦合等离子体光谱仪 ICP 可提供70多种元素的定性定量分析
    波长色散型X射线荧光光谱仪 WDXRF 主要元素(B5-U92)定性半定量分析
    能量色散型X射线荧光光谱仪 EDXRF 主要元素(Na11+U92)定性半定量分析
    椭圆偏振光谱法 SE 平面基板上有机和无机薄膜的厚度和光学常数;多层样品的单层厚度
    傅里叶变换红外光谱 FTIR 表征和识别复杂的材料混合物,包括气体、液体和固体;在宏观和微观尺度上识别有机污染物(例如颗粒、残留物);O的定量我在硅晶圆中,在SiN、SiON和a-Si薄膜中H(Si-H与N-H)
    氢前向散射光谱 HFS 薄膜的氢分析
    激光衍射法 LDPS 悬浮液和粉末的粒度分布分析
    激光诱导击穿光谱 LIBS 快速调查固体材料的化学成分;微量元素的元素分布分析和微米级映射;深度剖析
    纳米压痕 NI 高度局部化材料性能的定量力学表征,包括硬度、弹性模量、断裂韧性、蠕变、形貌;获得其他材料特性,包括纳米级动态力学分析(DMA)的存储模量和损耗模量,薄膜附着力,磨损,摩擦和结构合规性
    核磁共振光谱 NMR 化学结构鉴定;化学成分分析;原材料指纹识别;样品纯度测定;质量保证和控制;化合物鉴定和确认;定量分析;反应动力学检查
    核反应分析 NRA 测量薄膜中低含量的B、C、N、O和Li
    光学轮廓测量 OP 表征机械零件的磨损和摩擦;确定焊料凸点高度的一致性,例如在倒装芯片和其他先进封装上;测量微流体通道、光学器件等的曲率半径;评估涂层/加工晶圆上的弓形,例如MEMS制造;对芯片或晶圆上的多个特征进行高通量筛选
    粒子诱导的X射线发射 PIXE 鉴定/定量仅靠RBS无法解决的较重元素
    拉曼光谱法 Raman 识别有机和无机化合物的分子结构以进行污染分析,材料分类;应力测量;碳层的表征(石墨与金刚石);
    全反射X射线荧光 TXRF 半导体晶圆上的金属表面污染
    X射线光电子能谱 ESCA 有机和无机材料、污渍或残留物的表面分析;从表面确定成分和化学状态信息;薄膜成分的深度剖析;薄膜氧化物厚度测量
    X射线衍射 XRD 晶相的鉴定/定量;测量散装材料和薄膜中的平均微晶尺寸、应变或微应变效应;测定块状材料和薄膜中结晶与非晶材料的比例;各种散装和薄膜样品的相鉴定
    X射线反射率 XRR 高精度薄膜厚度和密度测量;测量薄膜或界面粗糙度;测量晶圆上的薄膜均匀性;测量低介电涡薄膜的孔密度和孔径
    X射线荧光 XRF 测量从埃级到几微米的薄膜厚度和成分;用于大多数材料(包括玻璃、金属、陶瓷、聚合物或残留物)的一般元素鉴定和定量;用于识别特定的金属合金或类型的玻璃;用于固体或液体样品中污染物的痕量分析;用于大型溅射靶材的无损分析
    发射率/热辐射比 EV 材料发射率的表征;了解发射率与温度的关系
    电热汽化ICP光学发射光谱 ETV-ICP-OES 直接测定固体、液体和浆料中的痕量和超痕量污染物;石墨和人造碳的纯度调查分析;陶瓷、碳化硅、BC、硅中的痕量和超痕量测定3N4
    卢瑟福背散射光谱法 RBS 薄膜成分/厚度;确定面浓度;确定薄膜密度
    石墨炉原子吸收光谱法 GFAAS 超纯水中的微量金属;SiO的测定2在检测限为 0.4 μg/L 的超纯水中
    折射仪折光仪测试 RM 塑料、聚合物薄膜;测定水中糖的质量百分比;二元混合物成分的测定
    紫外/可见光/近红外光谱 UV/VIS/NIR 测定 175 nm 和 3300 nm 之间液体和固体的光学性质;溶液中分析物的定量;质量保证和质量控制
  • 仪器名称 仪器简称 理想用途
    凝胶渗透色谱 GPC 大分子的分子量和分子量分布;样品纯度测定;聚合动力学检查;质量保证和控制;高分子量定量
    高效液相色谱 HPLC 紫外-可见分光检测、荧光检测(FLD)和蒸发光散射检测(ELSD)允许检测各种分析物,并与参考标准品进行比较;质量保证和控制;分析物进行定量和纯度分析
    离子色谱 IC 食品和饮料分析;水性样品(例如水)或水萃取表面;带电分子的分离和纯化;样品纯度测定;离子的定量分析
    气相色谱 GC 定量挥发性分析;纯度曲线定量;残留溶剂定量
  • 仪器名称 仪器简称 理想用途
    气相色谱-质谱 GC-MS 鉴定和定量混合物中的挥发性有机化合物;残留溶剂测试;识别液体或气体中的痕量杂质;评估塑料提取物;评估半导体晶圆或其他技术产品上的污染物
    气相色谱-串联质谱 GC-MS/MS 挥发性分析物鉴定;复杂矩阵;低水平定量
    辉光放电质谱 GDMS 先进材料(金属、合金、石墨、电子材料、氧化物和陶瓷)的全面调查分析;特定深度的痕量和超迹线分布测量;从有限数量的样品中追溯未知物;颗粒材料和工程涂料的化学表征
    高分辨率质谱 HRMS 肽图分析和测序;完整质量数和糖型分析;相关蛋白质和杂质分析
    电感耦合等离子体质谱 ICP-MS 微量和痕量元素的定量分析;纯度认证、清洁验证和污染识别;从原材料/原料认证、产品安全、研发、生产控制到故障分析
    仪器气体分析 IGA 固体、粉末或颗粒材料中的 H、C、S、N 和 O 测定;气体分析,以量化各种键合化学和环境的 H、O 和 N;用于区分 H、O 和 N 的表面和体积浓度
    激光剥蚀电感耦合等离子体质谱 LA-ICP-MS 调查固体的化学分析;可追溯性(证明来源)分析;元素或稳定同位素分布分析;局部夹杂物和缺陷分析;深度特异性多元素化学检测
    液质联用仪 LC-MS 在线紫外检测可实现与HPLC和UPLC相同或相似的功能;分析缺乏紫外发色团的可电离化合物;分析物进行定性和定量分析;可以对复杂基质和/或痕量分析物的简单和复杂样品基质进行分析
    基质辅助激光解吸/电离 MALDI 准确的分子量测量;反应监测;氨基酸和寡核苷酸测序;蛋白质结构;细菌和真菌鉴定
    二次离子质谱 SIMS 掺杂剂和杂质深度分析;薄膜(金属、电介质、SiGe、III-V 和 II-VI 材料)的成分和杂质测量;浅层植入物和超薄膜的超高精度深度分辨率分析;批量分析,包括硅中的 B、C、O 和 N;离子注入机或外延反应器等工艺工具的高精度匹配
    电感耦合等离子体发射光谱 ICP-OES 固体、液体和悬浮液中主要、次要和微量元素的批量定量化学分析;精确测定各种材料中的主要和次要元素;质量控制和过程控制,以及研发
    裂解气质联用仪 PY-GC-MS 有机高分子化合物定性定量分析
    顶空-固相微萃取气质联用仪 HS-SPME-GC-MS 风味物质分析
    气质联用仪 GC-MS 聚合物鉴定;添加剂识别;组分的定性和定量分析;不适合直接GC-MS的材料
    电感耦合等离子体 ICP 多元素分析;通过用脉冲激光束剥蚀固体样品来直接分析样品
    飞行时间二次离子质谱 TOF-SIMS 有机和无机材料的表面分析;有机和元素材料的表面表征;绘制表面物种的横向分布图;污染物识别;晶圆表面金属的定量分析;失效分析;识别污渍、变色和雾霾;在加工前后检查表面以识别差异;表面元素和分子的成像;故障和根本原因分析;调查深度剖析
  • 仪器名称 仪器简称 理想用途
    热重分析仪 TGA 化合物的分解温度,有机物组分含量,灰分含量;室温至850℃,N2/Air/O2
    差示扫描量热仪 DSC 聚合物熔点、玻璃化转变温度、相变焓等;-90℃至300℃,N2
    DSC-TGA热分析联用仪 DSC-TGA 样品热流(DSC)和重量变化(TGA)的同步热分析
    动态热机械分析仪 DMA 聚合物动态力学性能测试,玻璃化转变温度,储能模量、损耗模量、损耗因子测试
  • 仪器名称 仪器简称 理想用途
    膨胀扩张测量法 Dilatometry 线性热膨胀;热膨胀系数;软化点;玻璃化转变温度
    固体和液体的密度测定 DMSL 固体(包括粉末)和液体的密度测定
    接触角和液滴形状测量 CA 涂层的润湿行为;疏水/亲水特性;研究清洁和其他表面处理的效果;未知液体的表面张力;质量保证和质量控制
    表面积和孔径测定 BET-DFT 固体材料的BET表面积分析;固体材料的孔体积和孔径分布分析
    差分霍尔效应计量 DHEM 测量电隔离半导体层中活性掺杂剂的深度分布、薄层电阻和载流子迁移率;评估掺杂剂活化或通过薄膜和界面迁移率的变化
    差示扫描量热法 DSC 测量纯化合物和混合物的热容;测量熔化热和凝固热;识别未知材料,并确定杂质的存在;确定衰老的影响;估算结晶度百分比;确定聚合物共混物和共聚物的相分离
    X射线实时成像 RTX 以非破坏性方式检测密封设备内的缺陷;根据军用标准筛选生产电子元件;故障分析调查的出色应用;
    张力测量法 TSM 表征涂料、薄膜、纤维和粉末,以研究其疏水/亲水性能;调查表面光洁度的变化;测量材料的物理特性;原材料指纹识别;样品纯度测定
    热重-差热分析 TG-DTA 热稳定性研究;金属和合金的相变;相变的定性分析;聚合物、有机和无机材料的分析
    破坏性物理分析 DPA 高可靠性电子元件认证;筛选电子元件零件,显著提高产品的可靠性
  • 仪器名称 仪器简称 理想用途
    空气喷射筛 AJS 干粉的重量分数分布分析
    动态力学分析 DMA 测量聚合物的玻璃化转变温度;确定材料性能从硬/刚变为软/橡胶的温度范围;塑料和热固性塑料的比较失效分析
    残余气体分析 RGA 包装外壳:可以分析DIP,四包,TO-x罐,金属盖设备,电子医疗设备,气体采样钢瓶,过程监控包,填充气体容器和许多其他密封设备
    高加速寿命测试 HALT-MEOST 在产品设计过程中检查原型以识别薄弱点;调查间歇性故障;适用于研究完整的系统、子系统或仅研究零件
    产品可靠性测试 ORT 温度、湿度、紫外线、腐蚀环境模拟;发现产品中的设计或组件弱点;在产品上市之前证明其稳健性
    电化学分析 EA 材料在特定环境中的耐腐蚀性;耐腐蚀涂层或钝化的质量;缓蚀剂在冷却水回路中的效率
    逸出气体分析 EGA 调查固体和气体样品中的气体种类;根据温度分析气体释放;密封封装的失效分析;金属和清洁度研究的除气率
    比色法 CM 发布测试以确保正确的颜色;稳定性测试以监控随时间的变化
    冲击测试 Impact PCB、电气模块和组件、手持设备的验证;加速机械损伤测试
    热重分析 TGA 热稳定性/降解;挥发物/水分的定量;逸出气体分析;有机/无机混合物(如油墨、糊状物、聚合物复合材料)的变形
    粘度测试 Viscosity 配方变化的影响、老化研究、产品规格;原材料验证;稳定性评估
    滴定法 MATI 酸/碱的定量以确定溶液的酸度/碱度;测定有机液体和固体中的水浓度;电镀液中铬、镍、硫酸盐的含量
    热机械分析 TMA 测量聚合物的玻璃化转变温度;聚合物、复合材料或无机物的热膨胀系数;后固化对玻璃化转变温度的影响;取向薄膜的收缩率
    薄层色谱 TLC 检查反应进度;确定产品纯度;确定样品中存在的分析物数量;监测柱色谱分离
    拉伸测试 TS 有关所研究材料的拉伸强度、屈服强度、压缩和延展性测试,它还包括弯曲测试,以及剪切和扭转测试
    盐雾喷雾测试 SM 材料质量控制;加速腐蚀测试
    能谱仪 EDS 元素定性半定量分析,针对粉末或者比较小的固体样品,可以进行点、线、面、扫描测试
  • 仪器名称 仪器简称 理想用途
    有机元素分析仪 / C、H、O、N、S元素定量分析
    激光粒度分析仪 / 粉径分布测试,样品可以在水中,乙醇中均匀分散,20nm至2mm
    紫外-可见分光光度计 / 主要可用于物质的定量分析,还可以用于物质的定性分析
    旋光仪 / 旋光度测试
    崩解仪 / 崩解时限测试
    溶出仪 / 溶出度测试
    卡尔费休水分测定仪 / 各种化工试剂、油品等水分测定,检出限为10ppm
    pH测试仪 / 测定水性体溶液的pH值,固定样品需提供检测标准货测试方法
    生物显微镜 / 观察生物样品的组织、细胞形态。
    熔融指数测试仪 / 熔融指数测定,适用于氟塑料、尼龙等工程塑料,也适用于聚乙烯(PE)、聚丙烯(PP)、聚甲醛(POM)、聚苯乙烯(PS)、ABS 树脂、聚碳酸酯等熔融温度较低的塑料
    直读光谱仪 / 镍、锌、钛、铁、铜基合金等的化学成分测试
    密度测定仪 / 常规固体、液体密度测试
    邵氏/维氏/洛氏硬度计 / 适用于塑料、橡胶、金属等常规固体的硬度测试
    旋转粘度计 / 适用于测定油脂、油漆、涂料、胶粘剂、塑料、食品、药物等各种流体的动力粘度
    恒温恒湿箱 / 加速实验、保质期实验、长期实验、包装材料和容器的选择。
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我们为您提供的测试服务

康派斯仪器测试分析技术

篇幅有限,只展示部分常用仪器&技术,但不局限于这些

康派斯测试全面覆盖多领域

康派斯技术服务优势

康派斯各类资质证书齐全,依托专业的技术实力、先进的仪器设备、精准的检测数据、高效的检测周期和合理的报价,为企业提供多维度多场景的服务支持。

  • 行业高度认可

    26年行业领域聚焦
    各类资质齐全权威
    研究型专业检测机构
    提供CMA/CNAS资质报告

    点击沟通需求
  • 软硬件实力强

    5000余认证参数
    500多台套进口设备
    千余名专业技术团队
    十几所万平顶尖实验室

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  • 数据准确可信

    百万余条图谱数据库
    严苛规范的质控体系
    涵盖1000+细分领域
    端到端多维度解决方案

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  • 服务全面高效

    周期短且价格合理
    服务网络遍布全国
    7*24小时售后服务
    全程一站式1对1服务

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出具行业认可报告

康派斯是获得CMA和CNAS认可的第三方检测机构,实验室获多家权威机构的认可,各类认证参数多达5000余个。

  • cnas证书
  • cma证书
  • iso证书
  • 职健证书

四步轻松拿报告

康派斯一直持续不断的优化检测方案,在确保检测结果准确的前提下,缩短时间,客户只需四步即可轻松快速拿报告。

了解康派斯

截止目前,康派斯已服务万余家企业,其中不乏世界500强。坚持为品质生活传递信任,做您身边的检测专家。

关于我们
资质荣誉
实力数据
实验室
仪器设备
专家团队
集团大厦

康派斯检测集团是一家取得"检验检测机构资质认证书CMA"以及"中国合格评定国家认可委员会实验室认可证书CNAS"的 综合性第三方检测机构。集团主要承担产品的国家监督抽查、行业抽查、以及产品认证、质量争议仲裁、客户委托分析等检验工作。

集团总部位于西安市长安区中兴深蓝科技产业园B4-1座,占地面积8000㎡。拥有价值超亿万元的检验仪器设备400余套。其中来自美国安捷伦(Agilent),德国布鲁克(Bruker), 瑞士万通(Metrohm) 等进口设备高达90%以上。集团拥有一只高效专业的团队,其中质检技术人员达70%,博士硕士占20%,本科学历占76%以上。

  • 26

    稳健发展

  • 400

    进口设备

  • 8000

    实验室面积

  • 100

    五百强客户

做中国有影响力的第三方权威检测机构

我们为各行业供应链上下游提供专业的检验、鉴定、测试/分析,覆盖行业包括:石油、化工、矿石、环保、泛电子、航空航天、农产与食品、生物医药、原料、气体、美妆与清洁、法律与诉讼、工业制造等。

我们的业务遍布中国近20个省,提供送样、上门采样等高灵活性服务。我们致力于提供公正、公平、准确、及时的专业检测服务,从而形成客户、员工、企业以及社会之间的循环共荣,携手改善产品质量安全。

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