综合性第三方权威检测机构

泛电子类半导体测试

「 可全国寄样/部分地区上门取样 」 「 CMA/CNAS资质报告 」 「 可加急检测 」

服务内容

高纯级电子化学品

我们提供高纯级电子化学品的性能测试、杂质分析等。帮助客户筛查生产过程当中被污染及不达标的试剂和材料。能有效提高产品良率。

材料分析

我们对生产中使用的塑料/聚合物,助焊剂,润滑剂和阻焊剂进行杂质成分分析,可以鉴别其特性,组成和纯度,同时也可以对引线键合,键合焊盘,引线和引线框架等进行元素分析。

表面分析

我们可以解决附着力和粘合方面的表面化学问题,回答有关表面清洁度的问题,并对材料表面的形态和形貌进行调查。

微量元素分析

我们可以在芯片制造的关键阶段检查原材料并且对半导体器件中的痕量杂质进行定性定量分析,可以有效为为客户提供产品优化方向。

掺杂剂的特征

康派斯可以测量掺杂剂水平,通过精密仪器检测极低浓度的掺杂剂和杂质。

FIB电路编辑

聚焦离子束或 FIB 电路编辑服务使客户能够以晶圆厂中全新晶圆批量的一小部分成本在芯片内快速切割走线或添加金属连接。

颗粒分析

可以通过AFM识别芯片及器件所有表面上的颗粒污染。 可以识别和测量所有类型的颗粒:金属、无机、有机、结晶、无定形等。

污染分析

通过量化晶片表面的表面金属,识别污染物(例如颗粒,雾度,有机污染物或晶片,光学器件和其他关键表面的表面变色)来评估清洁效果。

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