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电子束感应电流(EBIC)
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进动电子衍射(PED)
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扫描电子显微镜(SEM)
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能量色散X射线光谱(EDS)
球差校正扫描透射电子显
光谱学
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电子背向散射衍射(EBSD)
电子能量损失谱(EELS)
椭圆偏振光谱法(SE)
傅里叶变换红外光谱(FTI
氢前向散射光谱(HFS)
激光衍射法(LDPS)
激光诱导击穿光谱(LIBS)
纳米压痕(NI)
核磁共振光谱(NMR)
核反应分析(NRA)
光学轮廓测量(OP)
粒子诱导的X射线发射(PI
拉曼光谱法(Raman)
全反射X射线荧光(TXRF)
X射线光电子能谱XPS光谱
X射线衍射(XRD)
X射线荧光(XRF)
X射线反射率(XRR)
发射率/热辐射比(EV)
电热汽化ICP光学发射光谱
石墨炉原子吸收光谱法(
卢瑟福背散射光谱法(RBS
折射仪折光仪测试(RM)
紫外/可见光/近红外光谱
色谱学
凝胶渗透色谱(GPC)
高效液相色谱(HPLC)
离子色谱(IC)
气相色谱法(GC)
质谱学
气相色谱-质谱(GC-MS)
气相色谱-串联质谱(GC-MS
辉光放电质谱(GDMS)
高分辨率质谱(HRMS)
电感耦合等离子体质谱(
仪器气体分析(IGA)
激光剥蚀电感耦合等离子
液相色谱质谱(LC-MS)
基质辅助激光解吸/电离
二次离子质谱(SIMS)
电感耦合等离子体发射光
热解气相色谱/质谱(GC-MS
电感耦合等离子体(ICP)
飞行时间二次离子质谱(
理化学
膨胀扩张测量法(Dilatomet
固体和液体的密度测定(
接触角和液滴形状测量(
表面积和孔径测定(BET-DF
差分霍尔效应计量(DHEM)
差示扫描量热法(DSC)
X射线实时成像(RTX)
张力测量法(TSM)
热重-差热分析(TG-DTA)
破坏性物理分析(DPA)
翘曲分析
镀层分析
电子故障分析
表面分析
材料失效分析
材料表征分析
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通过AC-STEM-EDS定量超薄层
用于材料除气表征的逸出
表面改性聚合物的FTIR和接
通过热解吸GC-MS分析污染物
ICP-OES和ICP-MS检测指南
机加工零件的光学轮廓测
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