康派斯检测专注同步辐射吸收谱（XAFS）检测领域，具备CMA、CNAS资质，检测报告全国通用。涵盖各类产品全检测项目，周期短、数据准。全国服务热线：400-9621-929。

X射线吸收精细结构（X-ray absorption fine structure，XAFS），也叫X射线吸收谱（X-ray absorption spectroscopy，XAS），是一种基于同步辐射光源、研究材料局域原子或电子结构的一种有力工具，广泛应用于催化、能源、纳米等热门领域，主要有以下优点：

1.不依赖于长程有序结构，可用于非晶态材料的研究；

2.不受其它元素干扰，可对同一材料中不同元素分别研究；

3.不受样品状态影响，可测量固体（晶体、粉末），液体（溶液、熔融态）和气体等；

4.对样品无破坏，可进行原位测试；

5.能获得高精度的配位原子种类、配位数及原子间距等结构参数，一般认为原子间距精确度可达0.01Å。

 

XAFS数据解析可提供以下数据及服务：

1.XANES部分图谱，提供价态、初步结构的定性分析；

2.EXAFS拟合，提供配位原子种类、配位数和键长信息，以及简单的、从物理角度对谱的分析；

3.wavelet图谱，作为EXAFS拟合的进一步证据;

样品要求

1.粉末样品至少80-100mg（0.8-1.0ml体积量最好），越细越好，最好能过200目筛子，400目更好，一般研磨20min左右，

软线测试样品需不含油污、溶剂等成分；

2.粉末压片尺寸要求：直径大于6mm的圆形，厚度1mm左右；

3.块体样品要求测试面光滑，大小不超过5*5*5mm；

 

技术实力是康派斯检测集团的核心竞争力。集团构建"成像学-光谱学-色谱学-质谱学-理化学-功能测试"完整技术体系，配备扫描电镜、X射线衍射仪、热分析仪、质谱联用仪等高端设备，满足材料从微观结构到宏观性能的全维度检测需求。26年技术沉淀，形成覆盖150个类目的服务能力，为石墨、新能源、电子材料等行业提供定制化解决方案，助力企业研发创新与品质提升。

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